OP-7000

产品特点

●对薄膜光学折射率和膜厚进行高精度测量。

●对块体材料或基板材料进行高精度折射率测量。

●能够测量单层/双层薄膜结构中的膜厚和折射率。

●独特的气压联接方式，无需使用联接液。

●物质分散方程拟合。

●配备“分析”功能，可获取不同波长或温度下的折射率数据。

●适用于测量各向异性/双折射材料（TE 和 TM 模式）。

●提供多种激光源选项（标准配置：405–1550 nm；可选配置：375 nm、266 nm）。