光学材料与薄膜分析工具
用于折射率色散拟合、折射率分布与薄膜模式计算
柯西拟合
基于多波长折射率数据拟合 Cauchy 色散方程，获得材料折射率色散曲线。
塞米尔拟合
基于多波长折射率数据拟合 Sellmeier 色散方程，表征材料色散特性。
折射率分布
由有效折射率反演折射率-深度分布，并生成二维分布图。
模式计算器
根据膜层折射率与厚度，计算各阶导模的有效折射率及模式参数。