OP-6000

产品特点

高精度测量薄膜的光学折射率和薄膜厚度。

高精度测量块状材料或基底材料的折射率。

能够测量单层/双层薄膜结构中的薄膜厚度和折射率。

独特的气压耦合方式，无需耦合液。

材料分散方程拟合。

配备 “分析 “功能，可获取不同波长或温度下的折射率数据。

适用于测量各向异性/双折射材料（TE 和 TM 模式）。

提供多个激光源选项（标准配置：405-1550 nm；可选配置：405-1550 nm）：405-1550 nm；可选配置：375 nm、266 nm）。